Seminario "Integridad de Señal Innovadoras Técnicas TDR Basadas en VNAs"
Agilent Technologies organiza el Seminario “Integridad de Señal - Innovadoras Técnicas TDR basadas en Analizadores Vectoriales de Redes” que tendrá lugar durante los meses de marzo y abril en diferentes ciudades.
San Sebastián (11 de Marzo de 2014):
TECNUN-CEIT
Parque Tecnológico de San Sebastián
Bilbao (12 de Marzo de 2014):
Paseo Mikeletegi, 48 DEUSTOTECH
Universidad de Deusto
Avda. de las Universidades, 24
Cantoblanco, Madrid (13 de Marzo de 2014):
Escuela Politécnica Superior
Universidad Autónoma de Madrid
Avda. Tomás y Valiente, 11 E.T.S.I. de Telecomunicación
Valladolid (18 de Marzo de 2014):
Universidad de Valladolid
Camino del Cementerio, s/n
Madrid (19 de Marzo de 2014):
E.T.S.I. de Telecomunicación
Universidad Politécnica de Madrid
Avda. Complutense, s/n - Ciudad Universitaria
Santiago de Compostela (21 de Marzo de 2014):
Hotel NH Obradoiro
Avenida do Burgo das Nacións, s/n
Sevilla (25 de Marzo de 2014):
Facultad de Física
Universidad de Sevilla
Avda. de la Reina Mercedes, s/n
Málaga (26 de Marzo de 2014):
E.T.S.I. de Telecomunicación
Universidad de Málaga
Campus de Teatinos, s/n
Granada (27 de Marzo de 2014):
E.T.S.I.I. y Telecomunicación
Universidad de Granada
Periodista Daniel Saucedo Aranda, s/n
Almería (28 de Marzo de 2014):
Universidad de Almería
Edificio Cite III
Ctra. Sacramento, s/n - La Cañada de San Urbano
Zaragoza (2 de Abril de 2014):
Centro Politécnico Superior
Universidad de Zaragoza
María de Luna, 1 - Campus de San Francisco
Barcelona (3 de Abril de 2014):
E.T.S.E. de Telecomunicació
Universitat Politècnica de Catalunya
Jordi Girona, 1-3 - Campus Nord
Valencia (4 de Abril de 2014):
E.T.S.I. de Telecomunicación
Universitat Politècnica de València
Camino de Vera, s/n
Pamplona (8 de Abril de 2014):
E.T.S.I.I. y Telecomunicación
Universidad Pública de Navarra
Campus de Arrosadía, s/n
Santander (9 de Abril de 2014):
E.T.S.I.I. y Telecomunicación
Universidad de Cantabria
Plaza de la Ciencia - Avda. de los Castros, s/n
Las tendencias actuales de la electrónica obligan a los profesionales a aprovechar al máximo el limitado presupuesto para medida, optimizando el rendimiento de la instrumentación. El conocimiento de las soluciones de medida existentes y las capacidades de las mismas resulta indispensable para acortar el ciclo de diseño/desarrollo y pruebas, así como para la obtención de resultados precisos y exitosos.
Una caracterización precisa de los conectores, cables, interconexiones, placas de circuito impreso (PCB) y encapsulados de circuito impreso entre otros, diseñados para trabajar a las velocidades actuales, requiere de medidas paramétricas tales como impedancia/retardos (dominio del tiempo) y medidas de pérdidas de retorno/inserción (dominio de la frecuencia).
A medida que la tasa de bit aumenta en las aplicaciones digitales de alta velocidad, la integridad de señal de todas las interconexiones, cables, transmisores y receptores, impactan dramáticamente en las prestaciones del sistema. Asegurar la fiabilidad del producto y el cumplimiento de los estándares de comunicación de alta velocidad de ahora y del futuro, requiere de medidas aún más estrictas y complejas.
Otro de los desafíos consiste en trasladar los resultados de medida obtenidos a cómo se comportará nuestro enlace punto a punto y qué aspecto tendrá el diagrama de ojo al final de dicho enlace. Incluso conociendo el diagrama de ojo a la salida del transmisor, conocer con exactitud la contribución de nuestros componentes a la integridad de la señal, es muy complicado si contamos únicamente con medidas tradicionales de impedancia/retardos y pérdidas de retorno/inserción.
En este seminario le explicaremos de forma comprensible los fundamentos de las diferentes herramientas de medida existentes y nos centraremos en las innovadoras técnicas TDR/TDT basadas en analizadores de redes vectoriales (VNAs) que nos ayudarán a conocer cómo se va a comportar nuestro cable, conector, PCB, … en términos paramétricos tiempo/frecuencia y de integridad de señal. También abordaremos las distintas posibilidades para entornos de producción donde el coste total de la solución y la velocidad de test es un punto muy importante.
La agenda del seminario será la siguiente:
Horario Presentación
09:00 - 09:15 Presentación y Bienvenida
09:15 - 10:30 Fundamentos de Medida y Metodologías: tiempo y frecuencia
10:30 - 11:00 Café
11:00 - 12:15 TDR/TDT basado en analizador vectorial de redes
12:15 - 13:00 Analizador PCB - Altas prestaciones, bajo coste
13:00 Cierre
La inscripción a este seminario es gratuita y el número de plazas limitado.
Puede inscribirse a través de la página web, llamando al 91 631 33 00, o enviando un mensaje con sus datos de contacto a contactcenter_spain@agilent.com.
