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Nanotecnología al servicio de la industria de polímeros y materiales compuestos

11/02/2014

11 de enero de 2014

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Jornada sobre caracterización de Nanocomposites Poliméricos.

El próximo 20 de febrero tendrá lugar la Jornada sobre caracterización de Nanocomposites Poliméricos, organizada por el Instituto de Nanociencia de Aragón (INA) -dependiente de la Universidad de Zaragoza-, y por el Instituto Tecnológico de Aragón (ITA), adscrito del Departamento de Industria e Innovación del Gobierno de Aragón. La jornada pretende trasladar cómo la nanotecnología está al servicio de la industria de polímeros y materiales compuestos. Para ello, se darán a conocer las técnicas de caracterización instrumental más relevantes en el ámbito de los materiales poliméricos y otros materiales compuestos, contando con los equipamientos más avanzados para el desarrollo de las diferentes técnicas de caracterización, así como con los mejores expertos en el uso de los mismos.

Las sesiones y presentaciones se realizarán tanto en la sede del INA como del ITA, con demostraciones en los Laboratorios de ambos centros y en el de Microscopías Avanzadas. En esta actividad intervendrán: Jesús Santamaría, subdirector del INA, quien abrirá los actos de la jornada; José María de Teresa, coordinador del Laboratorio de Microscopías Avanzadas (LMA), que presentará ese espacio singular; Johann G. Meier, de la División de Materiales y Componentes el ITA, quien hablará sobre ‘Técnicas de Caracterización Dinámico-Mecánica (DMA, reología y espectroscopía dieléctrica)’. Además, otros técnicos del ITA presentarán las distintas técnicas de caracterización dinámico-mecánica de materiales poliméricos y otros materiales compuestos.

También, técnicos del INA harán presentaciones de las distintas técnicas de caracterización instrumental de materiales poliméricos y otros materiales compuestos. Tras ellos, Rodrigo Fernández-Pacheco, de TEM/Criotem, hablará de ‘Microscopía electrónica de transmisión’; Carlos Cuesta, de SEM/SEM Ambiental, sobre ‘Microscopía electrónica de barrido’; Silvia Irusta, de XPS, sobre ‘Espectrocopía de fotoelectrones de Rayos X’, José Luis Díez, de AFM, sobre ‘Microscopía de fuerza atómica’ y Nuria Navascués, de Raman, sobre ‘Microscopía de dispersión inelástica’. Asimismo, se celebrarán otras sesiones prácticas de caracterización, con grupos de trabajo reducido. La última parte de la jornada tendrá lugar en los Laboratorios del ITA, donde se mostrará el funcionamiento de los equipos de Reología, DMA y Espectroscopía Dieléctrica. Además, se recogerán dos muestras de entre los asistentes para su análisis mediante espectroscopía dieléctrica, cuyos ensayos, dada su duración, se realizarán con posterioridad a esta reunión.

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