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Bilbao acogió esta cita imprescindible para los profesionales de la metrología

Más de 100 profesionales participaron en la 7ª edición de Metromeet 

Redacción Interempresas18/04/2011

18 de abril de 2011

Metromeet cerró las puertas de una 7ª edición marcada por la gran participación y la alta calidad de las presentaciones. Durante los dos días de esta conferencia, la única en Europa dedicada a la metrología industrial dimensional, más de 100 profesionales se dieron cita en el Palacio Euskalduna de Bilbao para presenciar los dos tutoriales, tres ‘keynotes’ y veinte presentaciones del programa.

Metromeet abrió sus puertas con dos tutoriales simultáneos de dos horas de duración: el primero de la mano de Antonio Ventura-Traveset, director general de Datapixel, titulado ‘Integrando la Metrología en la Empresa Digital: cómo mejorar las formas de compartir información y cooperar’; y el segundo, a cargo de Wolfgang Osten, profesor de la Universidad de Stuttgart, que planteó los diferentes enfoques para superar los límites entre la micrometrología y la nanometrología óptica.

John Lawall, del NIST, impartió el ‘keynote’ inaugural de la conferencia, en el que planteó la posibilidad del uso del interferómetro Fabry-Perot para realizar mediciones, y explicó que esta técnica permite la absoluta medición de la longitud, además de un alto desplazamiento, comprobaciones de la propia consistencia y otras muchas ventajas. El segundo ‘keynote’ de la conferencia, impartido por Martin Wäny, fundador y presidente de Awaiba, abrió la jornada del viernes, y se centró en el presente y futuro de los sensores de imagen, desde la perspectiva de cómo la tecnología de sensores megapíxel puede ayudar a la metrología óptica.

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Metromeet acogió dos tutoriales, tres ‘keynotes’ y veinte presentaciones del programa.

La metrología óptica cobró especial relevancia en el tercer y último ‘keynote’ de la conferencia, a cargo de Richard Leach, director científico de Investigación en la División de Ingeniería de Medición en el Laboratorio Nacional de Física (NPL) en Reino Unido, que reabrió el debate de la metrología tradicional frente a la medición óptica en su ‘keynote’: ‘Contacto o sin contacto, esa es la cuestión’. Planteó los problemas relacionados con ambos métodos, y sugirió una fórmula con la que quizás se puedan corregir algunos de los errores sistemáticos que son comunes a los instrumentos de medición de superficies.

Durante los seis ‘tracks’ temáticos que agrupaban las 20 presentaciones de la conferencia, los asistentes descubrieron las últimas tendencias y novedades en el ámbito de la metrología industrial, del software metrológico, de la metrología óptica, de la nano y micrometrología y de la calibración y verificación, con ponentes como Daniel Mansfield (Taylor Hobson Ltd.), Óscar Lázaro (Asociación Innovalia), Gerd Schwaderer (Geomagic) o Simone Carmignato (Universitá de Padova), entre otros.

Bilbao ha acogido por séptimo año consecutivo esta cita ineludible para los profesionales de la metrología: un punto de encuentro único en el que compartir experiencias y aprender las más innovadoras y punteras técnicas metrológicas.

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