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National Instruments mostrará las nuevas soluciones PXI para pruebas de dispositivos móviles en el Mobile World Congress

Eurofach Electrónica27/02/2012

David Loadman, vicepresidente de prueba de dispositivos móviles de National Instruments, junto con ingenieros de los productos de prueba de NI.Las demostraciones incluyen los siguientes sistemas PXI de prueba:
• Sistemas de validación de dispositivos móviles y pruebas de producción dedicados a la conectividad de la telefonía móvil e inalámbrica de acuerdo a los estándares LTE, WCDMA, GSM / EDGE, Bluetooth y WLAN.
• Solución para la prueba de chipsets y dispositivos 802.11ac con configuraciones Rx y Tx de hasta 4x4 MIMO, incluyendo soporte para 80 MHz y 80+80 MHz (160 MHz).
• Solución para las pruebas en producción de múltiples dispositivos en paralelo para el caso de teléfonos móviles, mostrando las pruebas en paralelo de vídeo HDMI y GPS.

Los ingenieros pueden lograr con las soluciones de prueba PXI definidas con software de NI tiempos de prueba que son de 5 a 10 veces inferiores a los conseguidos con los instrumentos tradicionales apilados en racks. Estos sistemas se basan en procesadores multinúcleo, FPGAs (Field-Programmable Gate Arrays) y buses de datos de alta velocidad, que proporcionan capacidad de actualización en campo, procesamiento más rápido, mayor ancho de banda y soporte escalable para los nuevos estándares de conectividad celular e inalámbrica.