Metromeet facilita la puesta en común de desarrollos e ideas de metrología

Metromeet es la conferencia de carácter industrial en torno a la metrología más esperada del año. En esta 14ª edición de la Conferencia Internacional en Metrología industrial, Innovalia consiguió concentrar en el Palacio Euskalduna de Bilbao a los principales ejecutivos de empresas con mayor proyección internacional, universidades y centros tecnológicos. Acudieron expertos de General Electric, Innovalia, Creaform, Autodesk, QISAB, Capvidia, Tekniker, Novo Nordisk y Carlsberg, además de las principales instituciones a nivel mundial como el PTB, la Universidad de Nottigham, la de Amberes, la Technische Universität München y la organización legal de Metrología de India.

Patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, Faro, Zeiss y Creaform esta edición de Metromeet contó con contenido innovador de gran interés y permitió descubrir y debatir sobre la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0

La inauguración de la conferencia tuvo lugar en una de las principales salas del Palacio Euskalduna, donde Maurizio Ercole y Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, compartieron las directrices de Metromeet y los objetivos del encuentro. Toni Ventura, CEO de Datapixel, abrió la conferencia con un tutorial carismático en el que expuso el camino hacia la fabricación con ‘cero defectos’ gracias a la metrología. Según explicó, los principales objetivos de la fabricación con ‘cero defectos’ son lograr los ‘cero defectos’ en un entorno de producción, reducir los residuos y los descartes en la producción, bajar los costes de producción, acortar los tiempos de producción, aumentar la productividad y la competitividad y elevar la eficiencia del consumo de recursos y de energía. El reto es la combinación de flexibilidad y productividad y la fabricación con precisión y con ‘cero defectos’. De esta forma se generará la correspondiente respuesta del mercado y se elevará la calidad, la eficiencia y la productividad, de tal forma que Europa podrá mantener su liderazgo en los sectores de fabricación clave.

Acabó su intervención con una reflexión: “Metromeet permite que personas de distintos países, empresas y edades, miremos unidas hacia el futuro de la Metrología”.

Esta edición de Metromeet destacó también por los contenidos, que generaron mucho interés y expectación. Ainhoa Etxabarri presentó el segundo día la ponencia ‘Metrología y Mecanizado’, en la que, además de presentar M3MH, un software único de medición que permite la conexión directa con el CNC, habló de una nueva manera de medir, de producir y de optimizar los procesos industriales. Reducir costes y aumentar la productividad, mejorar la calidad del producto, eliminar errores humanos y aumentarla seguridad personal son algunos de sus objetivos. Explicó casos de uso como el acondicionamiento de máquina y herramientas (talonaje de herramientas y verificación y calibración de máquinas) y otros relacionados con el proceso de mecanizado.

Después de poner sobre la mesa temas tan atractivos como la medición híbrida, QIF, soluciones de software para impresiones 3D y la Industria 4.0, Metromeet daba por finalizada las dos primeras jornadas de la Conferencia. El tercer día lo protagonizó una mesa redonda liderada por Toni Ventura, CEO de Datapixel, Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, Maurizio Ercole, padre de la MMC y Jean-Claude Morel, director general de Missler Software.

Metromeet logró sacar conclusiones sobre las principales necesidades del sector y debatir acerca del futuro de la metrología con profesionales con distintas percepciones y distintas experiencias. A través de Metromeet, Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico y su claro posicionamiento como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de procesos de fabricación.