74 METROLOGÍA Y CALIBRACIÓN DE HERRAMIENTAS Nikon Metrology mejora el control de calidad en ensamblajes compuestos La Unidad de Negocio de Metrología Industrial de Nikon Corporation ha introducido un nuevo algoritmo de reconstrucción que permite reducir los tiempos de escaneo hasta 10 veces, lo que se traduce en un escaneo de rayos X más rápido y eficiente en ensamblajes compuestos por dos materiales de diferentes densidades. Son bien conocidas las ventajas de la tomografía computarizada de rayos X para la inspección y medición no destructivas del interior y el exterior de los componentes. Sin embargo, tradicionalmente, la tomografía computarizada (TC) de ensamblajes hechos de dos materiales, tales como metal y plástico, que es común en la industria; resulta inadecuada para el control de calidad (QC) en un ambiente de producción. Esto se debe a que se requiere un tiempo de escaneo prolongado para generar conjuntos de datos que sean lo suficientemente claros como para ser procesados, lo que va en contra de los requisitos para la inspección en tiempo real. Alternativamente, si se aumenta la velocidad de escaneado, se necesita un posprocesamientomanual por parte de operadores altamente calificados para eliminar los artefactos que aparecen en las imágenes y lograr resultados precisos. Una vez más, esto ralentiza el procedimiento e introduce variabilidad debido a la intervención humana. Para abordar estas dificultades a la hora de emplear la tecnología para estas aplicaciones de Industria 4.0, la Unidad de Negocio de Metrología Industrial de Nikon Corporation ha introducido un nuevo algoritmo de reconstrucción que permite reducir los tiempos de escaneo hasta 10 veces. Depende del tamaño y la complejidad del componente, pero las pruebas previas al lanzamiento demostraron que el software realizó un orden de magnitud más rápido en un conector típico de metal y plástico, lo que hace posible la integración de la línea de producción paralelamente con la inspección de muestras, en el proceso de fabricación. Izq. reconstrucción convencional. Dcha., con el algoritmo Dual.Material CT.
RkJQdWJsaXNoZXIy Njg1MjYx