La convocatoria de artículos para el Congreso Internacional de Metrología 2015 abierta hasta el 15 de diciembre
14 de noviembre de 2014
El próximo Congreso Internacional de Metrología, CIM 2015, se celebrará del 21 hasta 24 septiembre 2015 en París (Francia), junto con el evento Enova. Este cruce de caminos entre la industria y la ciencia proponen explorar los retos industriales en el campo de la medición a través de un programa variado que incluye charlas y sesiones de mesas redondas; una exposición de innovaciones tecnológicas y soluciones; y visitas técnicas que exploran las mejores prácticas industriales.
La conferencia permitirá a todos explorar la evolución de las técnicas de medición y su aplicación para la industria y conocer el valor añadido de la medida para la mejora de los procesos industriales y la gestión del riesgo.
Los interesados en aportar sus artículos pueden solicitarlo mediante este enlace.
CIM 2015 contará con una audiencia diversificada y el 70% de los participantes procedentes de la industria como:
- Los usuarios de la tecnología de medición en la industria, los laboratorios y los institutos nacionales,
- directores de calidad y tomadores de decisiones,
- Los fabricantes de equipos de medición e instrumentación, académicos e investigadores.
Así, los nuevos temas de las mesas redondas industriales tratarán sobre:
- Metrología para el futuro
- ISO 9001: 2015 los requisitos
- Seguridad y metrología en la industria alimentaria
- Externalización
- Metrología Soft
- Nanotecnologías
- Metrología en la industria farmacéutica y el medio ambiente biológico
