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Los asistentes también pudieron disfrutar de distintas conferencias plenarias, sesiones técnicas, presentaciones de usuarios y del área práctica y de exposición

NIDays 2016 aborda las principales novedades y tendencias tecnológicas de este año

María Fernández Peláez06/05/2016

Un año más, National Instruments celebró en Feria de Madrid (Ifema) NIDays 2016, un Foro Tecnológico sobre Diseño Gráfico de Sistemas que el pasado 12 de abril fue el punto de encuentro de numerosos ingenieros, científicos, profesores e investigadores de distintos sectores de la industria, desde la automoción hasta la industria aerospacial, incluyendo la robótica y la energía. En esta gran cita anual, los asistentes pudieron disfrutar de distintas conferencias plenarias, sesiones técnicas, presentaciones de usuarios, así como del área práctica y de exposición, además de conocer de la mano de los expertos de la compañía las principales novedades y tendencias tecnológicas de 2016.

Bajo el título ‘Utilizando un enfoque basado en plataforma para crear el Internet de las Cosas’ se desarrolló la primera ronda de conferencias en la que diversos expertos explicaron las últimas novedades de la compañía, expusieron casos reales de otras empresas que han apostado por estas novedades y aportaron datos actuales sobre la revolución tecnológica que estamos viviendo así como soluciones para hacer frente a la misma.

Además, el NIDays de este año ha sido un evento muy especial para la empresa ya que celebró su 25 aniversario en España. Por este motivo, el presidente de Nacional Instruments, James Truchard, mandó un mensaje de agradecimiento a España por estos 25 años de innovación y recordó que el IoT es una gran oportunidad para la industria española.

Precisamente sobre los retos del IoT habló John Graff, vicepresidente corporativo de marketing de National Instruments. El experto destacó que con el IoT la cantidad de datos que se generan es ingente. En concreto, indicó que son 22 exabytes los datos generados, un número elevadísimo de datos. En este sentido, Graff aludió a los “dos mundos” que existen y entre los cuales hay que crear esa inteligencia (IoT) que permita hacer el cálculo de todos los datos para poder analizar la información.

John Graff, vicepresidente corporativo de marketing de National Instruments
John Graff, vicepresidente corporativo de marketing de National Instruments.

Por un lado se encuentra el mundo físico (Physical World) que es donde están los datos analógicos (datos infinitos) y, del otro lado, está la conectividad de datos (Data Connectivity), donde ya existe un límite. “Tenemos que ir de los datos infinitos del mundo físico a los datos conectados”, declaró.

Por su parte, Rebeca Solaeche, de National Instruments, recordó a los asistentes que “tan sólo se analizan el 5% de los datos. Lo que hacemos nosotros es analizar los datos de una manera muy rápida con nuestras soluciones”, afirmó. A continuación, Solaeche puso algunos ejemplos de compañías, como es el caso de Jaguar Land Rover, que utilizan soluciones de National Instruments para analizar sus datos. En esta línea, explicó que antes de comenzar a utilizar las innovadoras soluciones de la compañía, el equipo de Land Rover sólo analizaba el 10% de los datos adquiridos. Ahora, al utilizar las soluciones de National Instruments, “puede analizar el 95% de los datos adquiridos”, según apuntó Solaeche.

Rebeca Solaeche
Rebeca Solaeche.

Sobre las soluciones de test se encargó de hablar Javier Gutiérrez, de National Instruments, quién hizo hincapié en la importancia de que las empresas innoven de una manera rápida para afrontar los nuevos retos que nos esperan. Puso el ejemplo de Embraer, una empresa brasileña de aeronaves. “Querían innovar e hicieron un acuerdo con NI para testear más rápido y hacer simulaciones. Además aprovecharon la escalabilidad de la plataforma PXI de National Instruments para sincronizar los diferentes sistemas y pasar de sistemas de test pequeños a la red con diferentes simulaciones de sistemas”, explicó.

Javier Gutiérrez, de National Instruments
Javier Gutiérrez, de National Instruments.

Según el gerente senior de los Sistemas de Prueba de Embraer, Fabio Costa, “National Instruments es el único proveedor que hemos encontrado que puede hacer tanto simulaciones a gran escala como pruebas físicas a gran escala”. Todo esto es posible gracias a las ventajas que aporta la Plataforma de National Instruments:

  • Escalabilidad de sistemas distribuidos.
  • Amplia Plataforma de E/S para medidas.
  • La mejor temporización y sincronización.
  • Una Plataforma abierta de software.

Miguel Cañete, applications engineer de Bosch Rexroth, explicó la experiencia de su compañía con LabVIEW para hacer frente a la cuarta revolución industrial. Cañete apuntó que la situación previa era la siguiente:

  • No existía un acceso directo a los datos de los actuadores y sensores.
  • Era necesario un programa PLC para acceder a los actuadores y sensores y definir y programar un interfaz de comunicación para acceder a los datos.
  • Se requerían habilidades de programación en ambas plataformas (LabVIEW y Open Core Interface) para desarrollar una aplicación.

La solución actual, según el experto, permite una integración total de todos los controles y actuadores de LabVIEW y un acceso directo a los datos de los actuadores y sensores. Además, ya no es necesario un programa PLC, pues es posible programar toda la aplicación en LabVIEW y existen más de 550 instrumentos virtuales en el SDK.

A continuación, Iker Segovia, apliccations engineer de National Instruments, analizó las novedades de la plataforma PXI y comparó un STS (basado en la Plataforma PXI) con las características de sistemas ATE. Además, puso el ejemplo de la empresa Cirrus Logic y concluyeron que era más barato que Cirrus comprara un STS que un ATE tradicional.

Asimismo, hizo alusión a la innovación continua de la Plataforma PXI asegurando que “parte de la innovación viene por la instrumentación modular. Contamos con sistemas de test más inteligentes”. Segovia también comentó que un canal SMU cuenta con 200 V, se multiplica por seis la reducción en tiempo de test en Investigación para MEMS y hay un 30% de mejora de tiempo en pruebas automáticas. También habló del Wireless Test System: “Hemos desarrollado el software. Hemos añadido una carcasa robusta tanto al chasis como al instrumento. Respecto al software, el Wireless Test System se ha añadido a la herramienta”, afirmó.

Por su parte, Ángel Sendín, de National Instruments, recalcó que el software es una parte fundamental el IoT y, a continuación, presentó las novedades de la plataforma LabVIEW RIO. “Los sistemas se encuentran dispersos y en continua evolución. El software que nosotros proponemos es LabVIEW, precisamente porque la plataforma LabVIEW RIO se encuentra en continua evolución. De la familia CompactRIO hemos lanzado controladores de alto rendimiento, como el Controlador para FlexRIO”, aseguró.

Ángel Sendín
Ángel Sendín.

Fabio Mussi, staff systems Engineer de National Instruments, declaró que “a medida que el tiempo cambia, la energía adquiere un papel muy importante”. En este sentido, habló del caso de Areva, una compañía que seleccionó el sistema CompactRIO. Mussi también anunció el lanzamiento de NI InsightCM.

Finalmente, Covadonga Villalba, de National Instruments, habló de LabVIEW sobre la cual aseguró que “es la mejor plataforma que hemos lanzado. Aunque continuamos mejorando y avanzando”. También habló del caso de un cliente, Nokia Networks, y del caso de Samsung, en el que están trabajando ahora.

Covadonga Villalba
Covadonga Villalba.

Tendencias tecnológicas para 2016

Como es habitual, durante el evento se celebró una rueda de prensa para presentar las tendencias tecnológicas para el 2016 que este año corrió de la mano de Víctor Mieres, de National Instruments.

Entre las tendencias, Mieres habló del 5G. Aseguró que aún se encuentra en fase de prueba y que ya hay muchos prototipos. “Nosotros estamos en el mundo del prototipo haciendo experimentos para ver cómo funcionaría en el mundo real. Primero se hace un proceso de simulación para probar las teorías, como es el ejemplo de Nokia y Samsung al que hizo alusión Covadonga Villalba”.

Otra de las tendencias es el Big Data, es decir, poder tener acceso a todos los datos que manejamos. “Cómo resolver el análisis de todos los datos que se almacenan es uno de nuestros grandes retos en el tema de ingeniería”, admitió.

La evolución de los estándares en el IoT Industrial, es otro de los temas actuales. “Ahora los dispositivos se conectan directamente a la nube y los estándares en las redes se tienen que resolver”, afirmó Mieres y recordó que la estimación para 2020 es que habrá 50 millones de dispositivos conectados. Finalmente, el experto hizo alusión a la última de las tendencias: los software.

Todas estas serían las tendencias que están presentes en la actualidad y a las que hay que hacer frente para poder abordar los nuevos retos que nos esperan y, sobre todo, a nivel industrial, donde National Instruments continúa trabajando con la innovación para ofrecer soluciones más rápidas y flexibles que faciliten el trabajo de los ingenieros, científicos y demás profesionales de los distintos sectores de la industria.

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