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El CSIC perfecciona la visión de lo más pequeño

20/03/2013

20 de marzo de 2013

Para observar aquello que el ojo no ve y donde el microscopio convencional tampoco llega, se desarrolló la microscopía de fuerza atómica, una aplicación encargada de percibir los objetos del mundo nanoscópico. Esta herramienta, capaz de detectar fuerzas del orden de piconewtons (la trillonésima parte de un newton) acaba de ser perfeccionada gracias a una nueva técnica desarrollada por investigadores del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC).
La mejora ha sido licenciada a través de una spin off de la institución, la empresa Next‐Tip. Consiste en el depósito de nanopartículas de composición química y tamaño controlados sobre las sondas ya existentes para la microscopía de fuerza atómica. El investigador del Instituto de Ciencias de Materiales de Madrid del CSIC Yves Huttel, responsable del desarrollo, explica: “Los estudios han mostrado que las nanopartículas depositadas actúan como sondas efectivas y que cuando más pequeñas son, mejor es la resolución en microscopía”.
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Comparativa de imágenes de AFM tomadas sobre la misma región de unos ópalos inversos. A la izquierda, la imagen adquirida con una punta comercial. A la derecha, imagen equivalente tomada con una punta modificada con la tecnología patentada por el CSIC.
Las sondas de microscopía de fuerza atómica son uno de los elementos fundamentales para el funcionamiento de este tipo de microscopios. Consisten en finísimas puntas que recorren la superficie a observar. La interacción entre la punta y el medio de estudio es la que ofrece la información sobre la superficie en cuestión. La técnica del CSIC añade, por tanto, las nanopartículas de tamaño y composición determinada a la superficie de esta punta.

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