El profesor Kam Lau de la Universidad de California, imparte una ponencia basada en la historia y el estado de la tecnología del láser tracker

Invitados de lujo en Metromeet 2008

Redacción MU15/01/2008
Las herramientas tradicionales de gestión, no son suficientes para hacer frente a los nuevos desafíos. La propuesta de Metromeet 2008 consiste en ofrecer una visión completa que permita conocer todas las nuevas soluciones para la industria metrológica: Sistemas de calibración para la medición del metal, nuevo enfoque en tareas de coordinación geométrica, sistemas de medición óptica, la robótica para la metrología, la micro tecnología,…
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Metromeet 2008 cuenta una vez más, con la presencia de los profesionales más destacados en el área de la metrología, como Ted Doiron (Zygo), Kostadin Doytchinov, R.Schmitt o Kam Lau, quienes hablarán de temas como los nuevos sistemas de desarrollo óptico y digital, entre otros, en el Palacio de Congresos y de la Música de Bilbao los días 21 y 22 de febrero de 2008.

Kam Lau, ponente especial en Metromeet 2008

El profesor Kam Lau de la Universidad de California, es uno de los principales ponentes que la Conferencia Metromeet 2008 presenta en su cuarta edición. El profesor Lau es un experto en patentes de medición óptica y de señales de radiofrecuencia. Su ponencia se basará en la historia y el estado de la tecnología del láser tracker y sus aplicaciones; un sistema de medición que utiliza la tecnología de seguimiento láser para medir con alta precisión piezas de gran volumen en un amplio ámbito de sectores industriales.

Este ponente realizó sus estudios sobre Ingeniaría electrónica en el Instituto de Tecnología de California Caltech. Recibió una mención especial en 1996 de la IEEE (Instituto de Ingenieros Eléctricos y Electrónicos - una asociación técnico-profesional mundial dedicada a la estandarización), y de la NSF (Fundación Nacional de Ciencias americana). Asimismo, obtuvo el premio al investigador más joven en 1989.

Actualmente, imparte clases en el Departamento de Ingeniería Eléctrica e Informática de la Universidad de Berkeley, California, en la que realiza trabajos de investigación sobre el láser tracker o láser rastreador.

Kam Lau explicará durante Metromeet cómo los ingenieros y diseñadores utilizan los datos para invertir el diseño, elaborar y optimizar nuevas partes y productos, o mejorar lo que ya han realizado. “El personal dedicado al control de calidad lo utiliza para verificar que las partes se han montado de forma correcta, y en caso contrario, corregir lo que sea necesario”.

El láser tracker domina el mercado global ya que dispone de unas características únicas que aumentan la productividad de las empresas.

Este instrumento computerizado de medición crea una “huella” 3-D de grandes objetos y formas de hasta 70 metros de tamaño.

Al mismo tiempo que el usuario guía el láser a través de la superficie de la plataforma medida, el láser emite un rayo reflectante que permite que el ordenador del sistema dibuje y grabe de forma simultánea todas las medidas 3-D con gran precisión.

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