Kam Lau, ponente especial en Metromeet 2008

27/12/2007

27 de diciembre de 2007

El profesor Kam Lau de la Universidad de California, es uno de los principales ponentes que la Conferencia Metromeet 2008 presentará en su cuarta edición, que tendrá lugar en Bilbao los días 20 y 21 de febrero. El profesor Lau es un experto en patentes de medición óptica y de señales de radiofrecuencia. Su ponencia se basará en la historia y el estado de la tecnología del láser tracker y sus aplicaciones; un sistema de medición que utiliza la tecnología de seguimiento láser para medir con alta precisión piezas de gran volumen en un amplio ámbito de sectores industriales.

Este ponente realizó sus estudios sobre Ingeniaría electrónica en el Instituto de Tecnología de California Caltech. Recibió una mención especial en 1996 de la IEEE (Instituto de Ingenieros Eléctricos y Electrónicos - una asociación técnico-profesional mundial dedicada a la estandarización), y de la NSF (Fundación Nacional de Ciencias americana). Asimismo, obtuvo el premio al investigador más joven en 1989.

Actualmente, imparte clases en el Departamento de Ingeniería Eléctrica e Informática de la Universidad de Berkeley, California, en la que realiza trabajos de investigación sobre el láser tracker o láser rastreador.

Kam Lau explicará durante Metromeet cómo los ingenieros y diseñadores utilizan los datos para invertir el diseño, elaborar y optimizar nuevas partes y productos, o mejorar lo que ya han realizado. “El personal dedicado al control de calidad lo utiliza para verificar que las partes se han montado de forma correcta, y en caso contrario, corregir lo que sea necesario”.

El láser tracker domina el mercado global ya que dispone de unas características únicas que aumentan la productividad de las empresas. Este instrumento computerizado de medición crea una “huella” 3-D de grandes objetos y formas de hasta 70 metros de tamaño. Al mismo tiempo que el usuario guía el láser a través de la superficie de la plataforma medida, el láser emite un rayo reflectante que permite que el ordenador del sistema dibuje y grabe de forma simultánea todas las medidas 3-D con gran precisión.

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