Faro organiza su ‘User Meeting 2019’ en Bilbao el próximo 10 de octubre en el AIC
Faro, especialista en soluciones de medición y generación de imágenes 3D, presentará sus últimas novedades e innovaciones en su ‘User Meeting 2019’, que tendrá lugar el próximo 10 de octubre en el AIC - Automotive Intelligence Center, situado en Parque Empresarial Boroa de Amorebieta-Etxano (Bizkaia), a partir de las 9:30 de la mañana.
Entre ellas, se hablará de cómo optimizar las mediciones y aumentar la precisión mediante el sistema Faro 8-Axis, que combina los productos portátiles Quantum FaroArm o Quantum ScanArm con un 8º eje funcionalmente integrado, pero físicamente separado; el digitalizado 3D en serie y sin Robot con Cobalt Array y Oneclick; ó el digitalizado 3D de gran volumen con Focus 11:15-11:45, por citar algunos ejemplos.
Los participantes tendrán la oportunidad de profundizar en las tecnologías innovadoras más recientes en el mundo de la Metrología, de la mano de los expertos de Faro, probar dichos equipos y ver demostraciones en vivo, además de intercambiar experiencias con otros usuarios sobre las mismas, participando también en sesiones de networking.
Para tal evento, la agenda es la siguiente:
09:30-9:45 hrs. Recepción
9:45-10:00 hrs. Nuevo estándar ISO para Brazos y cómo adaptarse a ella.
10:00-10:15 hrs. Optimizar las mediciones y aumentar la precisión mediante 8 Axis.
10:15-10:30 hrs. Digitalización 3D con texturas con Prizm.
10:30-10:45 hrs. Digitalizado 3D en serie y sin Robot con Cobalt Array y Oneclick.
11:00-11:15 hrs. Digitalizado 3D de gran volumen con Focus 11:15-11:45.
Coffe break
11:45-12:15 hrs. Medición de puntos ocultos en grandes volúmenes con 6 probe.
12:15-12:30 hrs. Ayuda en el proceso de montaje con verificación final con TracerSI.
12:30-12:45 hrs. Inspección visual mediante realidad aumentada con Visual Inspect.
12:45-13:15 hrs. Novedades CAM2 y BuilIT con RPM.
13:15-13:30 hrs. Gestión de equipos con FARO Now!.
13:30-14:15 hrs. Lunch
•14:15 hrs. -Libre Workshop práctico. La empresa propone al participante traer su pieza y medirla ‘in situ’.
Las jornadas son gratuitas, aunque de aforo limitado, por lo que todos los usuarios de tecnología de medición metrológica interesados en acudir como asistentes deberán estar registrados.
Para inscribirse basta con seguir el enlace de registro.
