32<< CONTROL DE CALIDAD Figura 2: Fuentes de incertidumbre de medida en TC. duce la información del nivel de gris de cada uno de los elementos del volumen 3D en el borde o límites de la pieza, utilizando algoritmos de extracción de super cie. Finalmente, a partir del modelo de super cie obtenido, nube de puntos, etc., es posible determinar los resultados de medición requeridos. 2.3 Fuentes de error en TC Dados los diferentes elementos que conforman un sistema de medida de TC y las fases requeridas para llevar a cabo la caracterización dimensional de piezas, la medición con tomografía computarizada se caracteriza por estar afectada por multitud de fuentes de error. En la literatura las diferentes causas de incertidumbre se clasi can en relación a diferentes criterios [1,5]. En este trabajo, dichos factores de in uencia se esquematizan en la gura 2. 3. Cálculo de incertidumbres con TC: procedimientos La discusión de los procedimientos disponibles para la evaluación de la incertidumbre de medida con TC se ha presentado en diferentes refe- rencias previas [1, 11, 12]. Nuevos estándares internacionales han ido apareciendo y también han de ser considerados. Otros se encuentran todavía en vías de desarrollo. Los procedimientos normalizados que se usan con MMCs de tipo táctil u óptico no pueden ser aplicados de forma directa debido al método y estrategia de medición de TC. No obstante, organizado por la Universidad de Padua, se llevó a cabo una intercomparación entre laboratorios que proponía a los participantes la evaluación de la incertidumbre de medida de cuatro artefactos calibrados (diferen- tes geometrías, materiales y dimensiones) para analizar los métodos de cálculo elegidos por los participantes y sus resultados obtenidos [13,14]. Las conclusiones demostraron que no existía un criterio común claro para el cálculo de incertidumbre con TC, y que los participantes tenían grandes di cultades para asegurar la trazabilidad de las medi- das, incluso siendo usuarios expertos. Igualmente, la falta de procedimientos establecidos se une a la di cul- tad de establecimiento de objetos de referencia. Artefactos con esferas patrón (e.g. barras de bolas) permiten determinar la distancia entre centros e identi car el factor de escala. La medición de la posición entre centros de esferas no está in uenciada por los diversos factores que afectan a las imágenes escaneadas (detección de bordes, umbral, desplazamiento de la super cie, etc.). Otras referencias de medidas longitudinales como bloques patrón o pirámides escalonadas con dimensiones conocidas sirven para de nir el tamaño de píxel o voxel con la unidad de longitud. Sin embargo, el material, geometría y demás condiciones afectan a la medida y de allí que tampoco existan patrones de referencia de nidos. A continuación, se resumen y describen los diferentes métodos utiliza- dos para el cálculo de incertidumbre con TC. Muchos de ellos se apoyan en las normas internacionales que consideran MMCs. Solamente la VDI 2630-2.1 se considera el caso especí co de sistema de medida de TC. Otros procedimientos son combinaciones de los métodos mencionados anteriormente y consecuencia de la experiencia. La principal ventaja que ofrece la TC es la posibilidad de caracterización de geometrías tanto externas como internas o sin accesibilidad, sin la necesidad de destruir o seccionar una pieza de trabajo