NORMATIVA 24 nal, aunque sí algunas nacionales, que den cuenta de esta forma de acotar, por lo que se suelen seguir las opciones disponibles en los programas. Esto no introduce cambios significativos más que en la Documentación Técnica de Producto (habitualmente conocida por sus siglas TPD). En cuanto al perfil a medir, ya sea 2D ó 3D, el esquema que desde ISO se está proponiendo para el acercamiento a los algoritmos de cálculo es la siguiente: • Se toman las definiciones anteriores de los parámetros (R, P y W) que ampliamente se usan en la industria. Evidentemente no tendría sentido prescindir de la experiencia habida cuenta de su eficacia en la utilización. Un ejemplo sería el parámetro de calidad superficial Ra, definido por la expresión (1). O en su nueva versión (2). En el caso de mediciones sobre superficies 3D, se han definido nue- vos parámetros para las características de volumen, no sólo área, y que para algunas aplicaciones resulta muy útil. Es una nueva forma de tratar los detalles de la superficie. • Se especifican las condiciones en las que se debe medir el perfil para aplicar dicho parámetro. Una discusión muy interesante en este punto es la selección de la superficie a medir, pues no es lo mismo una superficie mecánica, relevante por la fricción o por su interés para el agarre de la pintura, que una óptica, etc. Esto es algo que el diseñador debe decidir, pues los metrólogos medirán lo que el plano indique. El siguiente aspecto tiene mucho que ver con la medición en sí. Aún en el caso de utilizar métodos sin con- tacto, el perfil (ya sea 2D ó 3D), no es medido como un continuo, sino que siempre es discretizado o digitalizado. Por ello la expre- sión (1) no se convierte en la práctica en la integral (2). Esto es lo que se conoce como muestreado de la señal. En la normativa, ISO 4288 y otras [3] se recomiendan los valores de muestreo, longitudes de onda de corte, de recorrido etcétera para los valores de los parámetros a medir. Es muy importante recordar que los valores que se indican en la normativa siempre son recomendaciones, nunca obligaciones. Es el usuario el que al indicar que va a seguir dicha norma, se compromete a utilizar. Consecuentemente, los equipos de medición, cada vez más versátiles, suelen permitir la selección de las condiciones de medición bajo distintas normas o incluso propias del usuario. Los resultados obtenidos para un mismo parámetro y una misma superficie diferirán bajo condiciones distintas, pues evidente- mente los puntos de perfil de partida no serán los mismos, se están evaluando cosas distintas. En el arte de la medición, una vez muestreada la superficie, el perfil pasa a ser una señal, por su similitud con las señales que se usan en otros ámbitos de la ciencia y tecnología. • Sobre dicha señal se especifican los posibles filtros a utilizar. Este es el caballo de batalla que las empresas están dispu- tándose. Es muy habitual que cada fabricante de equipos de medición, típicamente de microscopios, aboguen por su algoritmo, su filtrado, su forma de cálculo. Para el cálculo de incertidumbres pormenorizado, es recomendable tener información sobre los algoritmos empleados. Todo usuario es consciente de que esta información no está fácilmente disponible, por ser algo que los suministradores de software mantienen confidencialmente. Sin embargo, la normativa pro- porciona métodos para poder caracterizarlos y resultar útiles para el cálculo de incertidumbres. Por ejemplo, una forma muy interesante de caracterizar el filtro morfológico de un equipo es simplemente medir el mismo perfil con los distintos palpadores de los que se disponga, una vez conocidas sus geo- metrías. Si las condiciones de medición son las mismas, deberá existir una correlación entre las mediciones. Este es un estudio sencillo y cómodo que muchos laboratorios llevan a cabo con sus propios patrones. Es importante señalar que la normativa no son documentos didácticos, son recomendaciones y así debe considerarse al tra- bajar con ellos. 2.3. A partir del sistema de medición En la normativa también se está dando cuenta de los posibles sistemas de medición distintos que puedan converger hacia la medición de calidad superficial, para dar cuenta de la necesidad Los equipos de medición, cada vez más versátiles, suelen permitir la selección de las condiciones de medición bajo distintas normas o incluso propias del usuario Figura 5: Figura de la ISO 25178-2:2016. Medición de superficie 3D.