LASER CLADDING base y el material nuevo aportado. En la parte supe- rior de la pared aportada hay una capa con granos aislados que se obtuvo en todos los cordones debido a las partículas de polvo que no se vuelven a fundir. Además, las áreas externas del aporte mostraron también este aumento de zonas policristalinas. De cara a trabajos de reparación, el crecer una altura mayor a la necesaria u obtener más grosor que el requerido permite eliminar estas áreas no deseadas mediante una operación de posprocesamiento y al mismo tiempo dejar el sobreespesor de material SX necesario para los componentes. En la figura 4 se presentan las figuras de polos inver- sos (IPF) y los mapas de estructura de grano de EBSD de una sección transversal de la pared aportada. Se analizaron las desorientaciones de punto a punto y de origen a punto. Los resultados confirmaron la microestructura SX de las capas sucesivas y los granos aislados en la parte superior y en las áreas externas del aporte. Sí se detectaron pocos granos aislados especialmente en el haz, con una desorien- tación de hasta 5o con respecto a la microestructura SX, mientras que en el análisis metalográfico estos granos fueron difíciles de detectar, incluso con un gran aumento. Teniendo en cuenta los granos que aparecen en las áreas externas del aporte, la desorientación aumenta hasta 18o. Las zonas negras indican zonas con patrones de difracción de baja calidad. La figura 4 (c) incluye una representación esquemática superpuesta de la orientación de los cristales. Las fronteras de grano de ángulo alto (>12o) se muestran en azul, mientras que para valores bajos (3-12o) se usó el color negro. Figura 3. Imágenes obtenidas por microscopio óptico de barrido de una sección tranversal de paredes aportadas con microestructura monocristalina (a con sobreespesor ideal; (b) sin suficiente sobreespesor. Se realizaron mediciones de microdureza para relacio- narla con la microestructura obtenida. Las mediciones se llevaron a cabo tanto vertical como horizontalmente cada 250 micras en cordones aportados que presen- taban microestructuras SX y no SX. Las mediciones verticales (figura 5a) mostraron que en las muestras SX la microdureza permaneció constante, aumentando ligeramente en el HAZ y en las primeras micras del material aportado con respecto al valor del material base. En muestras con cierto grado de policristalinidad o policristalinas la microdureza cambió drásticamente debido a las zonas policristalinas presentes. La misma Figura 4. Figura de polos inversos (IPF) de la evolución de la orientación cristalina con respecto a las direcciones (a) y (b) del material aportado. En rojo se muestra la desorientación de los pixeles contiguos y en azul la desorientación acumulada con respecto al origen. (c) Mapa EBSD de la parte superior del material aportado, mostrando la orientación del cristal en las áreas policristalinas. 55