63 TECNOLOGÍA LÁSER El sistema láser de pulsos ultracortos (inferior a 10 picosegundos, un picosegundo es la billonésima parte de un segundo) para la longitud de onda de 1.030 nm (infrarrojo cercano), presenta una energía por pulso que se mantiene independientemente de la fre- cuencia de repetición, esto permite realizar el proceso a velocidades mayores aumentando la frecuencia sin alte- rar las condiciones del proceso. La fuente láser puede emitir en tres longitudes de onda: 1.030 nm (en el infrarrojo cercano), 515 nm (dentro del visible, color verde) y 343 nm (en ultravioleta próximo). Dependiendo de las características de cada material, se obtienen mejores resultados (más eficiencia o precisión) con un tipo de emisión o con otra. Imagen 2. Camino óptico del láser UV sobre la mesa óptica elevada. Imagen 3. Guiado final del haz láser UV hacia el cabezal láser. Dentro del proyecto se ha experimentado con diferentes técnicas de procesado: ablación superficial (eliminación controlada de material), micro polimerización de resinas (polimerización en zonas localizadas pudiendo generar es- tructuras tridimensionales), fabricación aditiva (aportando materiales que son fijados al sustrato por acción directa del láser o por proyección a través de una superficie in- termedia) y procesos híbridos (empleando diferentes fuentes láser). Se ha trabajado también en la puesta a punto de sistemas de monitorización de los procesos. Te- niendo en cuenta la duración de los pulsos láser y la ve- locidad a la que ocurren los procesos, los sistemas de observación necesarios son muy exigentes en cuanto al control de los tiempos de exposición y la sincronización de la captación con la fuente emisora de radiación. Para la evaluación de los resultados, además de trabajar en los sistemas de monitorización, se emplea un microscopio confocal, ubicado en la sala limpia de las instalaciones del departamento Láser en AIDO. El microscopio combina las tecnologías, confocal e interferometrica, para obtener to- pografías tridimensionales. Es una técnica versátil a través de la cual es posible estudiar en gran detalle las caracterís- ticas superficiales no apreciables a simple vista en diversas muestras. Además, ofrece una buena aproximación al es- tudio morfológico de muchas superficies. Imagen 4: Microscopio confocal con plataforma posicionadora. tecnología