58 COMPONENTES ELÉCTRICOS Y ELECTRÓNICOS Decisiones rápidas en los negocios con Labview 2014 NI ha presentado en la NIWeek el software de diseño de sis- temas Labview 2014, el corazón de la plataforma de NI que ofrece mejoras para ayudar a los usuarios a adquirir, analizar y visualizar conjuntos de datos para la toma rápida de decisiones basadas en una buena información. Labview 2014 estandariza la forma en que los usuarios interactúan con el hardware me- diante la reutilización del mismo código y de los procesos de ingeniería de los sistemas, lo cual escala las aplicaciones para el futuro. Esto ahorra tiempo y dinero, ya que la tecnología avanza, los requisitos evolucionan y la presión del tiempo de lanzamiento al mercado aumenta. “El uso de Labview y el hardware CompactRIO de NI permitió a una de las mayores empresas de distribución municipales en Norteamérica poner en práctica las soluciones descentralizadas y distribuidas con los costes de implementación más bajos re- duciendo del riesgo y el tiempo de comercialización. Esta so- lución permite al cliente adquirir, analizar y visualizar los datos para dar prioridad a los proyectos que mejoran la estabilidad de la red y optimizar la gestión del crecimiento ”, dijo Bob Leigh, presidente y CEO de LocalGrid Technologies. Labview 2014 simplifica la compra a través de los Labview suites, los cuales ofrecen paquetes adicionales esenciales y relevantes y software complementario específico para test automatizado, control y monitorización embebida y test en tiempo real y hard- ware in the loop. Además, Labview 2014 proporciona acceso a la vanguardia del hardware de adquisición, tal como el sistema ro- busto y flexible de 4 ranuras CompactDAQ y el sistema Compac- tRIO, instrumentos diseñados por software, como el osciloscopio de alta resolución de 8 canales PXI Express y el “todo en un solo instrumento” VirtualBench basado en software. Las mejoras de los datos de Labview 2014 incluyen: - Tecnología Federation DataFinder -Los usuarios pueden buscar datos en una unidad, en la red local o en todo el mundo. - Nuevos algoritmos incorporados -Un despliegue más rico de análisis, incluyendo desde ficheros ‘.m’ a NI Linux Real- Time y funciones de visión artificial para FPGAs. - Data Dashboard para Labview - Los usuarios pueden crear fácilmente y con seguridad interfaces móviles para visuali- zar los datos adquiridos y tomar decisiones sobre la marcha basadas en una buena información y sin la experiencia de un desarrollador de móviles. La última versión de Labview incluye 13 funciones para opti- mizar la productividad de la codificación, la formación en línea ampliada incluida con el servicio activo de software y las nue- vas herramientas Labview Tools Network, tales como LabSoc- ket System de Bergmans Mechatronics LLC. Este sistema proporciona acceso remoto a las aplicaciones de Labview desde el escritorio o desde los navegadores web para móviles, sin necesidad de plug-ins o de un motor de tiempo de ejecu- ción por parte del cliente. Módulo PXI. profundizar en el instrumento y cambiar drástica- mente el rendimiento. Gracias a esta nueva clase de la instrumentación, los usuarios son capaces de convertir el instrumento en lo que necesiten, un cambio de paradigma en una industria en la que los productos han sido esencialmente definidos por el proveedor en lugar de hacerlo el cliente. Los instrumentos diseñados por software de NI contienen una FPGA programable personalizada por el usuario con el familiar flujo gráfico de datos del software de diseño de sistemas Labview, lo cual elimina la necesidad de lenguajes especiali- zados tales como VHDL y Verilog, costosos ex- pertos de diseño digital o pagos a vendedores de instrumentos cada vez que la personalización sea necesaria. Sistemas de pruebas basados en PXI National Instruments ha lanzado también sus sis- temas de la serie STS (Semiconductor Test System). Estos sistemas de prueba automatiza- dos basados en PXI reducen el coste de las prue- bas de los dispositivos de RF y señales mixtas, abriendo el acceso a NI y a los módulos PXI del mercado a los entornos de prueba de producción de semiconductores. En comparación con los equipos de prueba automatizados (ATE) conven- cionales de semiconductores, los STS llevan a los usuarios a experimentar una reducción de los costes de producción y a un mayor rendimiento y además, ahora pueden realizar la caracterización y la producción con las mismas herramientas de hardware y software. Esto reduce el tiempo de correlación de datos y el tiempo de lanzamiento de productos al mercado. I panorama